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菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL240
- 产品编号 : XDL240
- 测量原理：运用 X 射线荧光光谱法，通过测量样品受激发后发出的 X 射线荧光强度和能量，来确定镀层的厚度和成分，采用无损检测方式，具备自动聚焦功能。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL240硬件性能
移动平台：配备电动 X/Y 平台，移动范围≥95x150mm，可用工作台面≥420x450mm，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。
电动 Z 轴：电动 Z 轴支持手动 / 自动聚焦，移动范围≥140mm，可适配不同高度的样品。
DCM 技术：采用测量距离补偿法（DCM），可实现 80mm 深度的腔体样品远距离对焦测量。
高压调节：可变高压支持 30KV、40KV、50KV 三档调节，可根据不同的测试样品和场景灵活选择。
准直器：标配 φ0.3 的圆形准直器，还有 φ0.1mm、φ0.2mm 及长方形 0.3mmx0.05mm 等多种准直器可供选择。
探测器与摄像头：采用比例接收器，确保测量数据的准确性和可靠性。内置高分辨率 CCD 摄像头，放大倍数 40-160 倍，配备手动聚焦、十字线及可调节亮度的 LED 照明，还有激光光点用于准确定位样品。
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