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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是德国Helmut Fischer公司生产的一款能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 镀层测厚及材料分析仪器，属于 XDL 系列中的经典型号，专为手动操作与精准测量设计，广泛应用于工业质量控制与材料分析领域。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心性能优势
无需标准片测量：采用菲希尔基本参数法 (BP 法)，多数样品可直接测量，无需依赖标准片校准，显著提高检测灵活性与效率
超凡稳定性：优异的长期稳定性，校准周期长，减少维护频率，降低使用成本
精准定位：集成视频显微镜 (带缩放和十字线)，可快速对准样品并精确定义测量点，视频窗口实时监控测量过程
操作便捷：手动 XY 工作台操作直观，电机驱动 Z 轴自动对焦，降低人为操作误差
安全设计：配备防护罩，C 型槽设计允许测量大型扁平样品，确保辐射安全
主要应用领域
电子行业：印刷电路板 (PCB) 镀层测量、半导体封装引脚镀层检测
电镀行业：防护性与装饰性镀层 (如 Zn、Ni、Cr、Cu 等) 厚度与成分分析，镀液成分监测
汽车工业：零部件镀层质量控制，如轮毂、紧固件等装饰与防腐镀层
航空航天：精密零部件镀层检测，确保安全性能
通用工业：来料检验、过程控制、成品质量保证，适用于各种金属与非金属基体上的镀层测量
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