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菲希尔代理 X射线测厚仪 XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是德国 Helmut Fischer 公司生产的能量色散型 X 射线荧光 (EDXRF) 测厚及材料分析仪，专为高精度镀层厚度测量和材料成分分析设计，广泛应用于电子、汽车、航空航天等行业的质量控制环节。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪XDL230功能特点
1. 镀层测量能力
可测镀层厚度范围：从几纳米到数百微米
可精确测量多层镀层 (如 PCB 板上的 Au/Ni/Cu)，每层厚度精度达 0.001μm
同时提供镀层厚度和纯度分析 (如镀金层中金含量及杂质检测)
2. 样品适应性
样品台承重：最大约 15kg
样品最大尺寸：92×150mm (直径 × 高度)
可测非平面、深腔、复杂形状样品
3. 操作便捷性
内置高分辨率显示屏，直观操作界面
电动 Z 轴自动聚焦，快速定位最佳测量距离
软件支持测量数据自动记录、统计分析和报告生成
长期稳定性好，无需频繁校准 (一年仅需 1-2 次)
应用领域
1. 电子 / PCB 行业
PCB 板镀层检测 (焊盘镀金厚度低至 0.1mm)
连接器、端子镀层质量控制
半导体封装镀层测量
2. 汽车工业
发动机活塞环镀层测量
减震器、传动部件表面处理检测
连接器端子镀层分析
3. 航空航天
涡轮叶片热障涂层测量
精密零部件镀层检测
符合航空业严苛的质量和可靠性标准
4. 医疗 / 珠宝
医用钛合金、不锈钢材料成分验证
贵金属饰品镀层厚度和纯度检测
医疗器械涂层质量控制
5. 其他领域
电镀行业生产过程监控
表面处理厂质量检测
科研机构材料分析
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