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菲希尔Fischer X射线测厚仪|荧光分析仪
菲希尔Fischer X射线测厚仪|荧光分析仪
  • 菲希尔Fischer X射线测厚仪|荧光分析仪

  • 产品编号 : 菲希尔测厚仪
  • 菲希尔X射线测厚仪它装备了高精度,可编程运行的 工作台和电调的轴升降系统,是进行自动测量的理想仪器。当保护门开启时,工作台会自动移到放置样品的位置。通过激光光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精-确定位测量位置。
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产品描述


FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220菲希尔X射线测厚仪是一款拥有着操作性能,产品设计紧凑以及普遍适用的x射线的测量仪器。 它们非常适合于无损涂层厚度测量和材料分析。该仪器非常适合于质量保证、来料检验和过程控制的测量。X射线荧光 镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

Fischerscope X-ray XDL210/220应用领域 

●测量小零件,如螺丝,螺栓和螺母 

●触点和电子元件的测量 

●电镀液成分的测定 

Fischerscope X-ray XDL210/220通过使用比例计数管实现高计数率,从而可以进行精确测量。出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPEx射线 系统的特点。重新校准的必要性大大减少,节省了时间和精力。FISCHER的基本参数方法允许分析固体和液体样品以 及无需校准的涂层系统。The FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM仪器被设计为用户友好的台式仪器。根据预期用途,不同的版本具有不同的支持阶段: 

●Fischerscope X-RAY XUL 210:固定样本支持 

Fischerscope X-RAY XUL 220和XULM 240:可手动操作的XY工作台,用于小零件的精确定位 

●为了快速方便地定位样品,x射线源和检测器组件位于仪器的下腔中。 

●测量方向从样品下方开始,样品由透明窗口支撑。尽管这些仪器体积小巧,但它们配备了一个大的测量室。这样就可 以对较大的标本进行测量。 

●测量的整个操作和评估以及测量数据的清晰呈现是在PC上执行的,使用功能强大且用户友好的WinFTM®软件。 

●FISCHERSCOPE XUL 210, XUL 220和XULM 240仪器符合DIN ISO 3497和ASTM B 568。它们是完全受保护的仪 器,根据德国法规“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”进行型式认证。


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