菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准,用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪
3种不同的探测器可选(Si-PIN二极管;SDD 20 mm²;SDD 50 mm²)
3种可切换基本滤片
4种可切换准直器
最小测量点约为0.15mm
样品最高高度可达14cm
可编程XY工作台,定位精度为10µm
开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板
经过认证的全面保护设备
菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪镀层和合金(也包括薄涂层和低浓度)的材料分析
菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪电子行业,ENIG,ENEPIG
连接器和触点
黄金,珠宝和制表业
PCB制造薄金(几纳米)和钯镀层的测量
微量元素分析
高可靠性应用的铅(Pb)的测定(避免锡晶须)
对硬质材料涂层的分析