首页 > 表面分析仪 > 菲希尔Fischer > 菲希尔台式测厚仪 > Fischerscope X-ray XDAL600菲希尔X射线测厚仪
Fischerscope X-ray XDAL600菲希尔X射线测厚仪
Fischerscope X-ray XDAL600菲希尔X射线测厚仪
  • Fischerscope X-ray XDAL600菲希尔X射线测厚仪

  • 产品编号 : Fischerscope X-ray XDAL600
  • 菲希尔X射线测厚仪采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准,用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪
  • 询价

产品描述


菲希尔X射线Fischer X荧光射线测厚仪特点

  • 菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪采用DIN ISO 3497和ASTM B 568标准,用于自动测量达到0.05μm的镀层和用于ppm级含量的材料分析的通用X射线荧光光谱仪

  • 3种不同的探测器可选(Si-PIN二极管;SDD 20 mm²;SDD 50 mm²)

  • 3种可切换基本滤片

  • 4种可切换准直器

  • 最小测量点约为0.15mm

  • 样品最高高度可达14cm

  • 可编程XY工作台,定位精度为10µm

  • 开槽箱体设计用于测量大的印刷电路板

  • 经过认证的全面保护设备

菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪应用

  • 菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪镀层和合金(也包括薄涂层和低浓度)的材料分析

  • 菲希尔X射线测厚仪Fischer x荧光分析仪电子行业,ENIG,ENEPIG

  • 连接器和触点

  • 黄金,珠宝和制表业

  • PCB制造薄金(几纳米)和钯镀层的测量

  • 微量元素分析

  • 高可靠性应用的铅(Pb)的测定(避免锡晶须)

  • 对硬质材料涂层的分析

在线留言

苏ICP备2022013234号-3CopyRight 2024 © 无锡骏展仪器有限责任公司 Powered by JUNZHAN liangzhao