FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB菲希尔X射线测厚仪

出色的准确性和长期稳定性是所有FISCHERSCOPE X-RAY系统的特征。大大减少了重新校准的必要性，从而节省了时间和精力。FISCHER的基本参数方法无需进行校准即可分析固体和液体样品以及涂层系统。为了在大型印刷电路板和多面板上进行测量，XULM-PCB可以配备样品台扩展架，以扩大可用的样品放置区域。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB典型应用领域：
•尺寸大为610 x 610毫米（24 x 24英寸）的印刷电路板上的小部件和结构的测量
•电子和半导体行业中功能涂层的测量
•确定电镀液的成分通过使用微焦点X射线源和比例计数管可以实现高计数率，从而可以进行准确的测量。