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菲希尔测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XULM240
- 采用 X 射线荧光法（XRF），通过 X 射线激发样品表面镀层，分析荧光信号强度反推镀层厚度与元素成分，实现非破坏性检测。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240仪器特点：
用途广泛：可测量单性金属镀层、合金镀层、双镀层、双镀层（其中一层是合金）、三镀层的厚度，还能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析。
测量精准：比例计数器可实现高计数率，结合菲希尔公司的完全基本参数法，无需标准片校正即可分析固态和液态成分及测量镀层厚度。
设计合理：射线从下至上，采用 C 型开槽的大容量测量舱，便于放置样品，可测量大型或复杂形状的样品，也适合微小零件测量。
安全可靠：符合现行标准进行型式认证，满足辐射防护法规要求。
应用领域：适用于线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等镀层测量，电子行业接插件和触点的镀层测量，装饰性镀层 Cr/Ni/Cu/ABS 测量，电镀镀层如螺栓和螺母上的防腐蚀保护层 Zn/Fe、ZnNi/Fe 测量，以及珠宝和钟表工业、电镀液中金属成分含量测定等领域。
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