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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 产品编号 : XDL230
- 运用 X 射线荧光光谱法，采用无损检测方式，具备自动聚焦功能，可保障样品完整性与测量准确性。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230硬件性能：
手动 X/Y 平台：移动范围≥95x150mm，可用工作台面≥420x450mm，能满足多样品放置与测量需求。
电动 Z 轴：支持手动 / 自动聚焦，移动范围≥140mm，可适配不同高度样品。
DCM 技术：采用测量距离补偿法（DCM），可实现 80mm 深度的腔体样品远距离对焦测量。
高压调节：可变高压支持 30KV、40KV、50KV 三档调节，可灵活应对不同测试场景。
准直器：配备 φ0.3 的圆形准直器，可提升测量精度，还有 φ0.1mm、φ0.2mm 及长方形 0.3mmx0.05mm 等可选准直器。
X 射线探测器：采用比例接收器，确保信号稳定接收。
摄像头：高分辨率 CCD 摄像头，放大倍数 40-160 倍，便于样品观察定位，沿初级 X 射线光束方向观察测量位置，有手动聚焦、十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸）、可调节亮度的 LED 照明，激光光点用于准确定位样品。
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