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菲希尔X射线测厚仪FISCHER X-RAY XDAL237
- 产品编号 : XDAL237
- 菲希尔 (FISCHER) XDAL237是德国 HELMUT FISCHER 公司生产的高精度 X 射线荧光 (XRF) 测厚仪，专为测量超薄镀层 (≤0.05μm) 和 ppm 级材料分析设计，适用于精密工业质量控制与材料检测。
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产品描述
技术特点
全自动测量：电动 XY 平台 + Z 轴，防护门开启时平台自动移至装载位，大幅提升检测效率
多配置优化：
4 个可更换准直器 (0.1/0.3/0.6mm 孔径 + 0.5×0.15mm 狭缝)
3 个可更换初级滤波器 (镍 / 铝 / 无滤光)
三种探测器选择，适应不同精度需求
技术：
DCM (距离补偿法)：自动校准不同测量距离，简化操作
顶部向下测量：便于检测不规则形状样品
安全设计：全封闭防护罩 + 联锁装置，符合国际辐射安全标准
应用领域
1. 电子与半导体行业
PCB 板上微纳米级金 / 钯镀层测量
ENIG/ENEPIG 表面处理层分析
连接器、触点镀层厚度检测 (如镀金层)
焊料中铅 (Pb) 含量测定 (防锡须)
2. 珠宝钟表行业
黄金 / 铂金饰品纯度检测与厚度测量
手表带、表壳镀层质量控制
精密首饰微镀层分析 (纳米级)
3. 工业制造
工具涂层 (如硬质合金刀具镀层) 测量
多层复合镀层 (Cu/Ni/Cr、Sn/Pb 等) 厚度分析
汽车零部件镀层检测
航空航天精密部件涂层评估
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