菲希尔代理FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

产品描述

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230产品简介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款功能强大的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。其核心优势在于可对镀层厚度进行无损测量，同时能精准开展材料分析与溶液分析工作，在大规模生产的零部件以及印刷线路板上的镀层检测中表现出色。

该仪器具备良好的长期稳定性，这一特性使得用户无需频繁对仪器进行校准，大大简化了操作流程，提高了工作效率。其配备的比例接收器能够实现高计数率，为高精度测量提供了有力保障。此外，XDL 230 采用了 FISCHER 完全基本参数法，这一先进技术使其在测量和分析镀层系统、固体样品以及液体样品时，无需依赖标准片，极大地提升了仪器的适用性和灵活性。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230产品应用

工业制造领域

适用于大规模生产的电镀部件测量。在工业生产中，对于大量的电镀部件，该仪器能够快速、准确地检测镀层厚度，确保产品质量的一致性和稳定性，为生产过程的质量控制提供可靠依据。

装饰镀层检测

可对超薄镀层进行精准测量，例如装饰铬。在装饰镀层领域，镀层的厚度和均匀性对产品的外观和性能至关重要，XDL 230 凭借其高精度的测量能力，能够满足该领域对镀层检测的严格要求。

电子与半导体工业

在电子工业和半导体工业中，主要用于功能性镀层的测量。这些功能性镀层对电子元件的性能和可靠性有着重要影响，仪器可准确测量其厚度和成分，保障电子设备的质量和稳定性。

印刷电路板检测

能够对印刷线路板进行精确测量。印刷线路板是电子设备的核心部件之一，其镀层质量直接关系到线路板的导电性能和使用寿命，XDL 230 为印刷线路板的质量检测提供了高效、可靠的解决方案。

溶液分析

可用于电镀溶液的分析。通过对电镀溶液的成分进行准确检测，有助于优化电镀工艺，提高镀层质量，降低生产成本。