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菲希尔X射线测厚仪XDL230
菲希尔X射线测厚仪XDL230
  • 菲希尔X射线测厚仪XDL230

  • 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
  • FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是德国 Helmut Fischer 公司推出的一款高精度能量色散型 X 射线荧光(EDXRF)镀层测厚及材料分析仪,主要用于电镀零件、印刷电路板(PCB)、半导体元件等的
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产品描述


应用领域与典型案例
电子与半导体行业
PCB 检测:测量金(Au)、钯(Pd)、镍(Ni)等镀层厚度,验证焊盘、引脚的涂覆质量  
半导体封装:分析 IC 载板、引线框架的镀层均匀性,检测微焊点中的元素分布(如 Sn-Pb 合金)。
汽车与航空航天
功能性镀层:测量发动机部件的耐磨铬层
表面处理与电镀
装饰性镀层:检测卫浴五金、珠宝首饰的镀铬、镀金层厚度及均匀性。
医疗与精密制造
精密部件:检测钟表外壳、光学元件的贵金属镀层(如 Pt、Rh)以确保外观与耐腐蚀性。

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