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菲希尔镀层测厚仪XDL210
- 产品编号 : XDL210
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210是德国 Helmut Fischer 公司 (成立于 1953 年) 生产的能量色散型 X 射线荧光测厚仪，专为高精度、非破坏性镀层厚度测量和材料成分分析设计的台式仪器。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210特点
1. 测量原理
采用 X 射线荧光光谱法 (XRF)，通过测量样品被激发产生的特征 X 射线能量和强度来确定镀层厚度和成分。
2. 技术优势
非接触、无损检测，不损伤被测样品
高精度，可测超薄镀层 (小于 0.05μm)
多元素同时分析，可识别镀层成分并测量厚度
直观操作，彩色摄像系统辅助定位，实时监控测量过程
灵活应用，可测平面和不规则样品 (自上而下测量)
应用领域
1. 电镀行业
大批量生产零件的镀层厚度检测 (如锌、镍、铬多层镀层)
电镀溶液金属成分分析，监控电镀质量
2. 电子 / PCB 行业
印刷电路板 (PCB) 上金、锡、铜等镀层测量
电子元件表面涂层厚度检测
ENIG 工艺中金层覆盖率评估 (优化焊接可靠性)
3. 其他领域
汽车零部件镀层质量控制
卫浴、五金产品镀层检测
航空航天零部件涂层分析
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