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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 菲希尔X射线测厚仪，FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希尔X荧光射线测厚仪
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产品描述
电子制造业
PCB 板检测：通过 DCM 技术补偿元件凸起导致的测量距离变化，精准测量焊盘镀金厚度（如 0.1mm 焊盘），帮助企业通国际品牌的严苛验厂。
元器件分析：微区检测能力可分析芯片引脚镀层成分，确保电子产品的电气性能和可靠性。
汽车与航空航天
零部件质量控制：检测发动机部件、金属结构件的防护镀层厚度，验证材料成分是否符合设计标准。某航空企业使用 XDL230 检测钛合金和超合金部件，数据通过客户审核。
珠宝与贵金属支持从氯（Cl）到铀（U）的金属元素分析，可精确测定金、银等贵金属的厚度，满足高端珠宝鉴定需求。
科研与高端制造在新材料研究中，XDL230 可分析多层镀层结构，其长期稳定性确保实验数据的可靠性。
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