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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230X射线测厚仪
菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230X射线测厚仪
  • 菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230X射线测厚仪

  • 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
  • 在智能制造与质量追溯需求日益严苛的今天,镀层厚度与材料成分的精准检测已成为工业生产的核心命脉。作为德国菲希尔(FISCHER)50 年技术沉淀的结晶,XDL230 X 射线测厚仪以技术突破,重新定义了 X 射线荧光检测的行业标准,为电子、汽车、航空航天等制造领域提供了质量保障方案。
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产品描述


革命性技术:从实验室到产线的精准跨越

  1. DCM 技术,突破空间限制
    传统 X 射线检测受限于测量距离与样品形状,而 XDL230 Distance Compensation Method(DCM)测量距离补偿技术,通过算法智能修正 0-80mm 范围内的距离偏差,即使面对 PCB 板元器件凸起、复杂曲面零部件等场景,仍能保持优于 1% 的测量精度。某 PCB 制造商采用 XDL230 后,不同厚度板子的检测结果一致性提升 300%,良率从 82% 跃升至 96%。

  2. 比例接收器与多元素同步分析
    搭载高分辨率比例接收器(能量分辨率 130eV),XDL230 可同步检测从氯(Cl)到铀(U)的 24 种元素,单次测量即可解析多层镀层的厚度与成分。在汽车零部件检测中,其对锌镍合金镀层的成分分析误差小于 0.5%,助力企业快速定位电镀工艺缺陷。

  3. 德国精密制造的体现
    从带铍窗口的钨靶 X 射线管(寿命提升 40%)到微米级精度的 Z 轴马达驱动系统,XDL230 的每个部件均遵循德国 DIN 标准制造。设备 MTBF(平均无故障时间)超过 8000 小时,远超同类产品,大幅降低停机维护成本。

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