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FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 X射线测厚仪
产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL240
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240菲希尔X射线镀层测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及 材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。菲希尔X射线测厚仪XDL 240特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
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产品描述
菲希尔X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL240
典型的应用领域有:
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 全自动测量,如测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL 240 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
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