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菲希尔纳米压痕仪FISCHERSCOPE X-RAY HM2000S
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY HM2000S
- 菲希尔 HM2000S 是一款高性价比入门级微纳米压痕仪，采用仪器化压入法，符合ISO 14577/ASTM E2546，适用于涂层厚度 > 1μm的硬度与弹性模量测量，支持手动 / 半自动操作，可升级至全自动HM2000，兼具成本优势与专业性能，适配研发、质检、来料检验与产线过程控制。
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产品描述
菲希尔纳米压痕仪FISCHERSCOPE HM2000S适用材料与应用场景
1. 适用材料
涂层系统：PVD/CVD 硬质涂层、电镀层、装饰 / 功能镀层、硬质阳极氧化层、等离子涂层、汽车清漆、塑料涂层
块体材料：金属、陶瓷、硬质合金、医用材料、电子部件、接插件、焊线、复合材料
关键限制：涂层厚度 > 1 μm，样品表面需平整（粗糙度不宜过大），避免显著形变表面
2. 典型应用
研发（R&D）：新材料配方筛选、工艺优化、力学性能机理研究
质量控制（QC）：产线批次一致性检测、关键部件性能验证
来料检验（IQC）：供应商材料符合性判定
过程控制：涂层沉积工艺实时监控，降低不良率
系统配置与软件
1. 硬件组件
HT2000 测量头：核心测量单元，集成高精度载荷与位移传感器
手动 / 半自动工作台：XYZ 轴调节，适配不同样品定位需求
压头更换系统：快速切换不同类型压头，提升灵活性
可选封闭测量室：隔绝气流与振动，保障高精度测量环境
2. 软件系统（WIN-HCU®）
直观操作界面，向导式测量流程
实时载荷 - 位移曲线显示与分析
符合标准的自动计算与报告生成
数据导出（Excel/CSV）与追溯管理
多语言支持，适配全球用户
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