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菲希尔X射线FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237
- 德国 Helmut Fischer 公司生产的能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 台式测厚仪，专为微小结构与薄镀层测量设计，可自动化控制，适用于质量控制、来料检验与生产监控。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理独特功能亮点
自动样品装载：保护门开启时，XY 工作台自动移出至装载位置，提升操作效率与安全性
智能定位系统：激光辅助定位 + 高分辨率视频显微镜 (带十字线)，快速精确确定测量点
无标样分析：菲希尔专有基本参数法 (FP)，无需标准样品即可分析镀层、固体与液体样品
DCM 技术：自动补偿测量距离变化，确保不同高度样品测量精度一致
WinFTM® 软件：功能强大、界面友好，支持自动化测量、数据分析与专业报告生成
长期稳定性：出色的精确性与稳定性，减少校准频率，降低使用成本
多模式测量：支持点测量、线扫描、面扫描，适配不同检测需求
典型应用领域
电子工业：PCB 印刷线路板功能性镀层 (Au/Ni/Cu、Sn/Cu 等)，连接器 / 触点涂层测量
电镀行业：大规模生产零部件 (如汽车紧固件) 的 Zn/Fe、ZnNi 等防腐镀层，装饰性 Cr/Ni/Cu/ABS 多层涂层
半导体：微小区域薄镀层，超薄功能性涂层厚度与成分分析
材料研究：合金成分分析 (如 A4 钢中钼检测)，PVD 涂层厚度测量
质量控制：来料检验、过程监控、成品检测，支持统计过程控制 (SPC)
电镀液分析：可选配件测定电镀槽液中金属含量，优化生产工艺
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