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菲希尔X射线测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- 产品编号 : FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
- FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。 由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。XDL 230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
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产品描述
菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有：
• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层，例如：装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDL230设计理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的Z轴系统。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以准确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如：大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的准确调整。
所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。
XDL型镀层测厚及材料分析仪作为受*保护的仪器，型式许可*符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。
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