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SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪
SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪
  • SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度仪

  • 产品编号 : SURTRONIC DUO
  • Surtronic Duo II是英国泰勒霍普森 (Taylor Hobson) 公司生产的便携式表面粗糙度测量仪,属于该公司 Surtronic 系列的入门级产品,主打 "操作简便、快速测量、高性价比",适合中小型企业和现场检测需求。
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产品描述


泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO核心特点
1. 创新分体式设计
仪器分为显示控制单元和驱动单元两部分,可通过滑轨分离
分离后两单元间采用蓝牙 5.1无线通信 (早期版本用红外 IrDA),分离距离可达1 米
特别适合测量深孔、管道内壁等难以直接触及的表面
2. 一键测量
只需按下测量按钮,即可同时测量多种粗糙度参数
参数包括:Ra(算术平均粗糙度)、Rz(十点高度)、Rp(最大峰高)、Rv(最大谷深)、Rt(轮廓总高)
测量周期约5 秒,结果清晰显示在2.4 英寸 LCD 彩色屏幕上
3. 高精度测量
金刚石测针 (尖端半径 5μm,90° 角度) 确保耐磨性和测量精度
测量范围:Ra 0.1~199μm,精度达 **±(2%+0.004μm)**
分辨率:Ra 0.01μm,其他参数0.1μm
符合ISO 4287/4288国际标准
4. 便携耐用
充电电池供电,一次充电可进行多次测量
整机轻便 (约 200g),适合现场移动测量
适应温度范围:10~35°C,相对湿度≤80%(非冷凝)


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